Visión Artificial e IA para la Inspección en Línea
El equipo de Intel® IT, con el fin de detectar defectos a nivel de micras y reducir los desperdicios, está implementando una solución con hardware y software Intel®.
El equipo de Intel® IT está usando visión computarizada e IA para la inspección de línea en las fábricas de ensamble y pruebas de Intel.
Mantener la red global de fábricas de Intel en funcionamiento con la máxima eficiencia es una de las principales funciones de Intel® IT. Durante la última década, presentamos numerosas soluciones automatizadas impulsadas por inteligencia artificial (IA) que reducen drásticamente los residuos y mejoran la calidad de los productos. Recientemente, agregamos una nueva capacidad mediante visión computarizada (CV) y aprendizaje automático que nos permite realizar inspecciones de línea durante los procesos de ensamble y pruebas. La inspección de línea puede detectar defectos y problemas en las herramientas mucho antes que la inspección fuera de línea. Además, nuestra solución, llamada Intelligent Wafer Vision Inspection (IWVI), puede detectar fácilmente defectos de tamaño micrométrico que son difíciles de ver incluso con un microscopio, así como defectos que son imposibles de detectar después de que se completa el proceso.
Las cámaras de alta resolución toman varias imágenes por segundo mientras una herramienta de rectificado adelgaza la oblea y se instala una película protectora de poliéster. Las imágenes se analizan mediante un modelo de aprendizaje automático en el edge. Si se detectan defectos, la solución puede hacer sonar una alarma o incluso detener la máquina.
La solución, que incluye los procesadores Intel® Core™ i9, los procesadores escalables Intel® Xeon® y las GPUs independientes Intel® ARC A770, se está implementando en todas las fábricas de ensamble y pruebas de Intel.
La solución IWVI se identificó como vital para garantizar la calidad y la confiabilidad de las nuevas generaciones de productos en las fábricas del futuro de Intel. Su diseño estandarizado da como resultado una implementación rápida y una fácil extensibilidad a nuevos casos de uso. La PoC demostró que la solución podía identificar con exactitud muchos tipos de defectos en el proceso de adelgazamiento de obleas, como abolladuras, rasguños de varios tamaños, marcas de rectificado, manchas, grietas, burbujas, corredura de oblea y corredura de montaje.
La PoC demostró que hasta el 50 % de los problemas de adelgazamiento de obleas se pueden detectar antes con la inspección de línea en comparación con una inspección fuera de línea. Cuando suena la alarma de IWVI, la oblea se puede volver a trabajar, lo que evita la deslaminación de obleas completas durante los procesos posteriores. Más importante aún, la solución va más allá de lo que era posible con metrología fuera de línea:
• Detecta las excursiones a medida que se producen.
• Detecta defectos de proceso y apaga la herramienta rápidamente.
• Habilita una nueva capacidad para inspeccionar la limpieza del marco y del anillo interior.
Con la solución IWVI, logramos varios beneficios empresariales:
• Disminución de desperdicios, lo que le ahorra a Intel hasta 2 millones de dólares al año.
• Riesgo empresarial reducido.
• Mayor calidad de los productos.
• Liberación de los ingenieros de la tediosa inspección manual fuera de línea.
Anticipamos que la solución eventualmente se extenderá a procesos adicionales y nos complace compartir nuestro éxito con otros fabricantes, que pueden adaptar la solución a casos de uso adicionales.