SSD Intel® Optane™ serie P1600X

118 GB; M.2 de 80 mm; PCIe* 3.0 x4; Intel® 3D XPoint™

Especificaciones

Especificaciones de exportación

Elementos fundamentales

Especificaciones de desempeño

Confiabilidad

Especificaciones de paquete

Pedidos y cumplimiento

Información sobre especificaciones y pedidos

Intel® Optane™ SSD P1600X Series (118GB, M.2 80mm PCIe 3.0 x4, 3D XPoint™) Generic Single Pack

  • MM# 99AGG3
  • Código de pedido SSDPEK1A118GA01
  • ID de contenido de MDDS 706777

Intel® Optane™ SSD P1600X Series (118GB, M.2 80mm PCIe 3.0 x4, 3D XPoint™) Generic 100 Pack

  • MM# 99AJ1G
  • Código de pedido SSDPEK1A118GA
  • ID de contenido de MDDS 706777

Información de cumplimiento de la normativa comercial

  • ECCN 5A992C
  • CCATS 740.17B1
  • US HTS 8471706000

Información sobre PCN

Productos compatibles

Familia de servidores Intel® D50DNP

Nombre de producto Fecha de lanzamiento Estado Formato de la placa Formato del chasis Zócalo Sort Order Comparar
Todas | Ninguna
Intel® Server System D50DNP1MHCPAC Compute Module Q1'23 Discontinued 8.33” x 21.5” 2U Front IO, 4 node Rack Socket- E LGA4677 62312
Intel® Server System D50DNP1MHCPLC Compute Module Q1'23 Discontinued 8.33” x 21.5” 2U Front IO, 4 node Rack Socket- E LGA4677 62313
Intel® Server System D50DNP1MFALLC Acceleration Module Q1'23 Discontinued 8.33” x 21.5” 2U Front IO, 4 node Rack Socket- E LGA4677 62314
Intel® Server System D50DNP1MHEVAC Compute Module Q1'23 Discontinued 8.33” x 21.5” 2U Front IO, 4 node Rack Socket- E LGA4677 62315
Intel® Server System D50DNP2MHSVAC Management Module Q1'23 Discontinued 8.33” x 21.5” 2U Rack front IO Socket- E LGA4677 62316
Intel® Server System D50DNP2MFALAC Acceleration Module Q1'23 Discontinued 8.33” x 21.5” 2U Rack front IO Socket- E LGA4677 62317

Controladores y software

Software y controladores más recientes

Descargas disponibles:
Todas

Nombre

Intel® Memory and Storage Tool (GUI)

Intel® Memory and Storage Tool CLI (interfaz de línea de comandos)

Intel® SSD Firmware Update Tool

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Asistencia

Fecha de lanzamiento

La fecha en que se presentó inicialmente el producto.

Condiciones de uso

Las condiciones de uso son las condiciones de entorno y operación que se derivan del contexto de uso del sistema.
Para ver la información de condición de uso específica de la SKU, véase el informe PRQ.
Para ver la información de condición de uso actual, véase Intel UC (sitio de CNDA)*.

Lectura secuencial (máximo)

Velocidad en la que el dispositivo puede recuperar datos que forman un bloque de datos contiguo y ordenado. Medido en MB/s (MegaBytes por segundo)

Escritura secuencial (máximo)

Velocidad en la que el dispositivo puede registrar datos en un bloque de datos contiguo y ordenado. Medido en MB/s (MegaBytes por segundo)

Lectura aleatoria (alcance 100%)

Velocidad en la que la unidad de estado sólido puede recuperar datos desde ubicaciones arbitrarias en la memoria, en toda la extensión de la unidad. Medido en IOPS (Input/Output Operations Per Second) - (Operaciones de Entrada/Salida por segundo)

Escritura aleatoria (alcance 100%)

Velocidad en la que la unidad de estado sólido puede registrar datos en ubicaciones arbitrarias en la memoria, en toda la extensión de la unidad. Medido en IOPS (Input/Output Operations Per Second) - (Operaciones de Entrada/Salida por segundo)

Alimentación - Activa

La potencia activa indica el consumo de energía típico del dispositivo mientras está operativo.

Alimentación - Inactiva

La potencia en espera indica el consumo de energía típico del dispositivo mientras está en espera.

Vibración - En funcionamiento

Vibración de unidad de estado sólido indica la capacidad probada de SSD para soportar la vibración registrada en el estado operativo y permanecer funcional. Medido en RMS (Root Mean Square) de fuerza G

Vibración - No en funcionamiento

Vibración no operativa indica la capacidad probada de SSD para soportar la vibración registrada en el estado no operativo y permanecer funcional. Medido en RMS (Root Mean Square) de fuerza G

Choque (en funcionamiento o no en funcionamiento)

Choque indica la capacidad probada de la unidad de estado sólido para soportar la energía informada tanto en los estados operativos como en espera, permaneciendo funcional. Medido en fuerza G (Máx.)

Temperatura máxima de funcionamiento

Esta es la temperatura operativa máxima permitida según lo informado por los sensores de temperatura. La temperatura instantánea puede exceder este valor durante períodos cortos. Nota: La temperatura máxima observable es configurable por el proveedor del sistema y puede ser específica del diseño.

Clasificación de resistencia (nº de escrituras durante la vida útil)

La clasificación de la resistencia indica los ciclos de almacenamiento esperados durante el ciclo de vida del dispositivo.

Tiempo promedio entre fallos (MTBF)

MTBF (Mean Time Between Failures) indica el tiempo operativo esperado entre fallas. Medido en horas.

Tasa de errores de bit incorregibles (UBER)

Tasa de error de bit no corregible (UBER) indica el número de errores de bits no corregibles, divididos por el número total de bits transferidos durante un intervalo de tiempo probado.

Formato

El factor de forma indica el tamaño y forma estándar de la industria para el dispositivo.

Interfaz

La interfaz indica el método de comunicación del bus estándar que utiliza el dispositivo.

Mejoras en la protección contra pérdida de datos y el consumo de energía

La Protección de datos mejorada por pérdida de energía prepara la unidad de estado sólido para la pérdida de energía inesperada del sistema reduciendo los datos en transición en búfer temporales, y utiliza la capacidad de protección de pérdida de energía integrada para ofrecer suficiente energía para el firmware SSD para mover datos desde el búfer de transferencia y otros búfer temporales en la NAND, y de esa forma proteger los datos de sistema y del usuario.

Tecnología de alta resistencia (HET)

La Tecnología de alta resistencia (HET) en unidades de estado sólido combina las mejoras de silicio de memoria flash NAND Intel® y las técnicas de administración de sistema para ayudar a ampliar la resistencia de una unidad de estado sólido. Resistencia se define como la cantidad de datos que se puede copiar en una unidad de estado sólido durante su vida útil.

Supervisión y registro de temperatura

El monitoreo y registro de temperatura usa un sensor de temperatura interna para controlar y registrar el flujo de aire y la temperatura interna del dispositivo. Puede acceder a los resultados registrados con el comando SMART.

Protección de datos de extremo a extremo

La protección de datos de extremo a extremo garantiza la integridad de los datos almacenados en su traslado desde la computadora a la unidad de estado sólido y en su regreso.